班新娟
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Topsizer Plus激光粒度分析儀測(cè)量樣品的粒度分布。既可測(cè)量在液體中分散的樣品，也可測(cè)量須在氣體中分散的粉體材料。
歐美克 Topsizer Plus激光粒度分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
儀器引入了先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì)，采用全球化的供應(yīng)鏈體系，使激光衍射法的測(cè)試范圍達(dá)0.01-3600um。
Topsizer Plus保持了Topsizer量程寬、重復(fù)性好、分辨力高、真實(shí)測(cè)試性能強(qiáng)和智能化程度高等優(yōu)點(diǎn)，通過(guò)進(jìn)一步提升光學(xué)設(shè)計(jì)、硬件和反演算法，
拓展了其測(cè)試范圍以及實(shí)際測(cè)試性能，應(yīng)用遍及化工、機(jī)械、建材、能源、醫(yī)藥等現(xiàn)代工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域。
適用于鋰離子電池、制藥、水文和精細(xì)化工等諸多行業(yè)，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確。不管是制藥用的原材料、制劑還是鋰離子電池正負(fù)*材料等，
Topsizer系列產(chǎn)品保證了測(cè)試結(jié)果和分析能力與國(guó)內(nèi)外、行業(yè)上下游黃金標(biāo)準(zhǔn)保持一致，這不僅為用戶節(jié)省了方法開發(fā)和方法轉(zhuǎn)移上的時(shí)間和成本，
重要的是可避免粒度檢測(cè)不準(zhǔn)帶來(lái)的經(jīng)濟(jì)損失和風(fēng)險(xiǎn)，無(wú)論在研發(fā)、過(guò)程控制還是質(zhì)量控制上，都能夠?yàn)橛脩魩?lái)價(jià)值。
Topsizer Plus激光粒度分析儀工作原理：
一束平行光在傳播過(guò)程中遇到障礙物顆粒，光波會(huì)發(fā)生散射(衍射)偏轉(zhuǎn)，偏轉(zhuǎn)的角度跟顆粒的大小相關(guān)，散射(衍射)現(xiàn)象可以通過(guò)“Mie散射理論 ”來(lái)描述。顆粒粒徑越大，光波偏轉(zhuǎn)的角度越小;顆粒粒徑越小，光波偏轉(zhuǎn)角度越大。激光粒度分析儀就是利用顆粒對(duì)光的散射現(xiàn)象，根據(jù)散射光能的分布推算被測(cè)顆粒的粒度分布。
通過(guò)對(duì)光學(xué)、算法、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化，使歐美克激光粒度儀具備重復(fù)性良好、動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍寬廣、操作簡(jiǎn)單方便等優(yōu)點(diǎn)。
光學(xué)系統(tǒng)
雙光源技術(shù)
Topsizer Plus激光粒度分析儀采用雙光源設(shè)計(jì)，紅光主光源為進(jìn)口氦-氖激光器，波長(zhǎng)0.6328μm;并有半導(dǎo)體藍(lán)光輔助光源，波長(zhǎng)0.466μm，提高了對(duì)納米級(jí)顆粒及少量大顆粒的分辨力。在國(guó)產(chǎn)激光粒度分析儀中，紅藍(lán)雙色光源技術(shù)為歐美克采用。
進(jìn)口高性能氦氖激光器及電源
采用以長(zhǎng)壽命，低噪聲，高穩(wěn)定性著稱的進(jìn)口知名品牌氦氖激光器及配套激光電源，為儀器提供理想的光學(xué)質(zhì)量偏振光源。在氣體激光器本身帶來(lái)的穩(wěn)定波長(zhǎng)基礎(chǔ)上，Topsizer Plus激光粒度分析儀采用的高性能光源系統(tǒng)同時(shí)具備功率穩(wěn)定, 預(yù)熱時(shí)間短, 偏振比高而穩(wěn)定，模式純度高等高性能激光粒度儀須的光學(xué)特性。確保儀器在不同工作環(huán)境下都能保持穩(wěn)定工作，并帶來(lái)無(wú)需標(biāo)定的準(zhǔn)確性性能。
直線光路設(shè)計(jì)
Topsizer Plus激光粒度分析儀光路系統(tǒng)采用密閉式直線光路設(shè)計(jì)，無(wú)多余反射光學(xué)部件造成的雜散光，亦無(wú)粉塵污染干擾，同時(shí)采用高精度全鋁合金光學(xué)平臺(tái)，確保光路穩(wěn)固可靠。
后傅立葉變換單鏡頭設(shè)計(jì)
單鏡頭設(shè)計(jì)，采用透鏡后傅立葉變換結(jié)構(gòu)，突破了傅立葉透鏡的光瞳制約，使散射光接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制;而且單鏡頭光路中的折射、反射面減少，可以進(jìn)一步降低儀器工作時(shí)的背景噪聲至低水平，提高了儀器測(cè)量時(shí)的信噪比。
長(zhǎng)焦距的傅里葉透鏡
Topsizer Plus激光粒度分析儀選用具有較長(zhǎng)焦距的傅立葉透鏡，這樣增加了測(cè)量窗口到光電探測(cè)器平面的距離(也就是有效焦距)，從而使光電探測(cè)器能夠準(zhǔn)確探測(cè)到更小散射角度的散射光信號(hào)，大大增強(qiáng)了儀器對(duì)大顆粒的測(cè)試能力，儀器的測(cè)量上限達(dá)3600μm。
合理分布、高感光度的進(jìn)口光電探測(cè)器
Topsizer Plus激光粒度分析儀光電探測(cè)器為特殊定制的進(jìn)口光電探測(cè)器，確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測(cè)通道數(shù)多達(dá)103個(gè)，由前向、側(cè)向、大角度和后向光電探測(cè)器組成三維立體檢測(cè)系統(tǒng)，探測(cè)角范圍達(dá)到0.016-140度。結(jié)合藍(lán)光散射信號(hào)，實(shí)現(xiàn)了空間全角度范圍散射光能信號(hào)的無(wú)縫接收，有效保證顆粒散射光能信息的*面準(zhǔn)確獲取。
智能自動(dòng)對(duì)中
智能軟件控制自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)保證了準(zhǔn)確的光學(xué)對(duì)中。自動(dòng)對(duì)中在幾十秒內(nèi)即可完成，既可作為自動(dòng)測(cè)量的一部分，亦可在屏幕上單擊鼠標(biāo)來(lái)完成。智能自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)保證了多次測(cè)量的重復(fù)性。
分散系統(tǒng)
標(biāo)配SCF-108A循環(huán)進(jìn)樣器，采用(號(hào)：2012204087053)的燈籠頭下壓式水流循環(huán)回路設(shè)計(jì)，配備大功率準(zhǔn)確自動(dòng)控制攪拌電機(jī)，轉(zhuǎn)速可達(dá)3500轉(zhuǎn)/分鐘的同時(shí)減少了氣泡和液體飛濺的產(chǎn)生，并具有良好的分散、清洗、排干能力。內(nèi)置功率大至50W的管路超聲裝置，超聲強(qiáng)度無(wú)級(jí)連續(xù)可調(diào)。標(biāo)配1000毫升樣品池，可根據(jù)客戶需求更換容量。
根據(jù)需要可選擇更多不同特性(例如微量、微量循環(huán)、耐腐蝕等)的濕法進(jìn)樣器。
干法進(jìn)樣系統(tǒng)：標(biāo)配DPF-110自動(dòng)干法進(jìn)樣器，分散氣壓0.05-0.6MPa無(wú)級(jí)可調(diào)，三重可調(diào)下料機(jī)
構(gòu)設(shè)計(jì)，可適應(yīng)于各種樣品測(cè)試對(duì)分散強(qiáng)度的要求。內(nèi)置分散壓傳感器和負(fù)壓傳感器，測(cè)試窗口全密閉，具有負(fù)壓保護(hù)裝置，可有效防止窗口和主機(jī)的污染。
功能強(qiáng)大的分析軟件
豐富的自定義報(bào)表功能，方便用戶靈活的獲取數(shù)據(jù)和定制報(bào)表樣式。
用戶可以靈活定義報(bào)告的標(biāo)題、Logo，選擇在報(bào)告中顯示的模塊，并對(duì)這些模塊進(jìn)行設(shè)置。如可調(diào)整行數(shù)、列數(shù)，坐標(biāo)軸范圍，報(bào)告內(nèi)容和參數(shù)等均可根據(jù)需要設(shè)定。
軟件設(shè)計(jì)模塊化，儀器狀態(tài)可視化，操作界面人性化。流程界面清晰明了，擁有導(dǎo)航功能。
儀器具備智能化自動(dòng)化操作。能夠自檢和自動(dòng)識(shí)別進(jìn)樣系統(tǒng);每次測(cè)量前能自動(dòng)測(cè)量電背景，有效減少電噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。配置自動(dòng)化進(jìn)樣器可以進(jìn)行全自動(dòng)干濕法粒度測(cè)試，手動(dòng)測(cè)樣亦有清晰的導(dǎo)航測(cè)試功能。
具備SOP標(biāo)準(zhǔn)操作流程，減少人為因素的影響，使分析測(cè)試流程標(biāo)準(zhǔn)化。
SOP測(cè)量程序編輯及運(yùn)行：
多種數(shù)據(jù)分析模型，滿足不同特性樣品的測(cè)試需要。體積分布、表面積分布、長(zhǎng)度分布和數(shù)量分布之間可以相互轉(zhuǎn)換?？筛鶕?jù)用戶需要設(shè)置指定的粒徑段。
完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù)。
多種方式的測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)出，方便數(shù)據(jù)交流。
具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR 要求的用戶分級(jí)、權(quán)限管理、數(shù)據(jù)完整性及可追溯功能
良好的儀器性能
Topsizer Plus對(duì)于Topsizer的升級(jí)中的一個(gè)重要特點(diǎn)是保留了在 0.02-2000um段數(shù)據(jù)與 Topsizer一致。通過(guò)光路、硬件和算法的升級(jí)進(jìn)一步提升了測(cè)試范圍至0.01-3600um。
寬廣的測(cè)量范圍
與市場(chǎng)上其他使用不同技術(shù)通過(guò)拼接的方案提高測(cè)試范圍不同，Topsizer Plus的實(shí)測(cè)范圍為0.01-3600um，使用靜態(tài)光散射一種技術(shù)實(shí)現(xiàn)從亞微米顆粒到毫米級(jí)顆粒的檢測(cè)，嚴(yán)格符合GBT19077-2016粒度分析激光衍射法的國(guó)標(biāo)要求，并能滿足不同粉體行業(yè)對(duì)顆粒粒度檢測(cè)與控制的各種需求。
寬分布樣品
對(duì)大顆粒具有強(qiáng)大測(cè)試能力
7-14目玻璃微珠
對(duì)納米、亞微米等超細(xì)顆粒具備良好識(shí)別能力
100nm latex
杰出的分辨能力
Topsizer Plus能夠準(zhǔn)確測(cè)定樣品中顆粒分布的微小變化，準(zhǔn)確反映樣品的實(shí)際粒度分布，能夠滿足技術(shù)研究和質(zhì)量控制的需要。圖中的混合物樣品為5.1um/14um/37.8um標(biāo)樣按比例配置。
良好的再現(xiàn)性
不同主機(jī)或不同進(jìn)樣器之間具有良好的再現(xiàn)性。
快速的測(cè)試速度
Topsizer Plus優(yōu)異快速的分散系統(tǒng)為儀器的快速測(cè)試提供了良好前提，使常規(guī)的測(cè)試能在10秒內(nèi)快速完成，大幅提升了測(cè)試的效率，更好的滿足了用戶的需求。
高靈敏度
多達(dá)103個(gè)光電探測(cè)通道，由雙光源及前向、側(cè)向、大角度、后向光電探測(cè)器組成三維立體無(wú)盲區(qū)檢測(cè)系統(tǒng)，探測(cè)角度可達(dá)140度。每次測(cè)試之前，軟件自動(dòng)檢測(cè)信噪度，使儀器對(duì)大小顆粒的微小變化有著良好的靈敏度。
優(yōu)良的適應(yīng)性
可選具有強(qiáng)分散能力分散系統(tǒng)，即使對(duì)于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，從而滿足各種不同密度的顆粒粒度測(cè)試的需要。
手機(jī)查報(bào)價(jià)
